Phenom ParticleX AM Desktop SEM

Desktop SEM 用于增材制造分析，能够观察到最大体积达 100 mm x 100 mm 的大样品。

Thermo Scientific Phenom ParticleX Desktop 扫描电子显微镜 (SEM) 是一款旨在用于增材制造，微量纯度实现的多用途台式 SEM。

实现对数据的内部控制：

Phenom ParticleX AM Desktop SEM 配备了一个电镜室，可分析最大 100 mm x 100 mm 的大样品。专有的排气/装载机制使其具有世界上最快速的排气/负载循环，能提供高通量。

规格 - Phenom ParticleX AM Desktop SEM

电子光学	长寿命的热电子源 (CeB6) 多射束电流
电子光学放大率范围	160 - 200,000x
光学放大率	3–16x
分辨率	<10 nm
图像分辨率选项	960 x 600、1920 x 1200、3840 x 2400 和 7680 x 4800 像素
加速电压	默认: 5 kV、10 kV 和 15 kV 高级模式：可在 4.8 kV 至 20.5 kV 成像与分析模式之间调节范围
真空水平	低 - 中 - 高
检测器	能量色散型 X 射线光谱 (EDS) 检测器（标配）二级电子检测器（可选）
样本尺寸	最大 100 mm x 100 mm（最大 36 x 12 mm 针脚）最大 40 mm (h)
样品加载时间	光学 <5 秒电子光学 <60 秒

一般SEM使用
PhenomParticleXAMDesktopSEM具有一个带有准确快速电动样品台的电镜室，可分析最高100mmx100mm样品。尽管样品尺寸更大，但专利的循环加载机制可使通气/加载循环保持到行业领先的60秒或更短的样品加载时间。实际上，这可改善SEM系统的通量因子。
增材制造
PhenomParticleXAMDesktopSEM可测量各种大小和形状参数，例如最小和最大直径、周长、长宽比、粗糙度和铁氧直径。所有这些结果均可以10%、50%、90%值（例如、d10、d50、d90）显示。
元素绘图和谱线扫描
用户只需点击即可使用PhenomParticleXAMDesktopSEM的元素绘图和线扫描功能。线扫描功能以线图显示量化的元素分布。这对于涂层、涂料以及其他多层应用特别有用，可用于分析边线、涂层、横截面等
二级电子检测器
ParticleXAMDesktopSEM可选提供二级电子检测器(SED)。SED从样品的顶部表层收集低能量电子。因此，非常适合揭示详细的样品表面信息。SED很适合拓扑和形态很关键的应用。在研究微结构、纤维或颗粒时，这通常是如此。