Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM 是一款多用途台式 SEM，可在微尺度上提供技术清洁。
Phenom ParticleX Desktop SEM 为实现高质量的内部分析提供了多用途解决方案，可以快速实现材料表征、验证和分类，为您的生产提供快速、准确和可信的数据。该系统操作简单易学，打开颗粒和材料分析窗口的速度更快、适合更广泛的用户群。
规格 - Phenom 分区 TC 台式扫描电镜
| 电子光学 | 长寿命的热电子源 (CeB6) 多射束电流 |
| 电子光学放大率范围 | 160 - 200,000x |
| 光学放大率 | 3–16x |
| 分辨率 | <10 nm |
| 图像分辨率选项 | 960 x 600、1920 x 1200、3840 x 2400 和 7680 x 4800 像素 |
| 加速电压 | 默认: 5 kV、10 kV 和 15 kV 高级模式：可在 4.8 kV 至 20.5 kV 成像与分析模式之间调节范围 |
| 真空水平 | 低 - 中 - 高 |
| 检测器 | 背散射电子检测器（标配） 能量色散型 X 射线光谱 (EDS) 检测器（标配） 二级电子检测器（可选） |
| 样本尺寸 | 最大 100 mm x 100 mm（最大 36 x 12 mm 针脚） 最大 40 mm (h) |
| 样品加载时间 | 光学 <5 秒 电子光学 <60 秒 |
技术清洁
随着对（汽车）行业中光学显微镜范围之外的较小颗粒分析的需求不断增长 ，Phenom ParticleX TC（技术清洁）Desktop SEM 可兼具自动扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱 (EDS) 两种优势。相比光学显微镜而言，这是一个主要优势，因为它可以对颗粒进行化学分类，为您的生产工艺和/或环境提供卓越的见解。提供符合 VDA 19 / ISO 16232 或 ISO 4406/4407 标准的报告。
二级电子检测器
Phenom ParticleX TC（技术清洁度）Desktop SEM 可选配二级电子检测器 (SED)。SED 从样品的顶部表层收集低能量电子。因此，是揭示详细样品表面信息的理想选择。SED 很适合拓扑和形态很关键的应用。在研究微结构、纤维或颗粒时，这通常是如此。
一般 SEM 使用
Phenom desktop SEM 产品的用户界面采用久经考验的易用性技术。该界面使现有用户和新用户能够以最少的培训迅速熟悉系统。
元素绘图和谱线扫描
用户只需点击即可使用 Phenom ParticleX TC（技术清洁度）Desktop SEM 的元素绘图和线扫描功能。线扫描功能以线图显示量化的元素分布。
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