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Phenom ParticleX 电池台式 SEM

在电池生产和研究中,材料质量变得越来越重要。例如,NCM 粉末中的小污染物会对成品造成灾难性的后果。为了有效追踪这些污染物,需要进行高分辨率 SEM 成像与 EDS 化学分析。完全自动化时,这种组合会成为强大的粉末质量检查工具。


货号: PARTICLEX-BATTERY

规格 - Phenom ParticleX 电池台式 SEM

放大3–16x
分辨率<10 nm
电气要求默认: 5 kV、10 kV 和 15 kV
高级模式:可在 4.8 kV 至 20.5 kV 成像与分析模式之间调节范围
Unit SizeEach


  • 电导率分类

    每个颗粒类别可以根据颗粒的电导率进行标记,从而根据颗粒的电导率进行分类。这样,您可以更准确地评估污染的影响,因为小的有机污染并不像金属导电污染那么严重。

  • 三元相图

    为了观察颗粒群的整体化学性质,可以生成显现所有颗粒的三元相图。在每个轴上都有 Ni、Co 和 Mn,可以立即看到未来和一般趋势。