为了让科学家们更好地了解复杂样品并开发新材料，他们需要具有相应构造与功能的设备——不但能够分辨空间、时间和频率，而且可靠精确。
赛默飞世尔科技推出了Thermo Scientific Spectra 300 (S)TEM，这是一种适用于所有材料科学应用的最高分辨率像差校正扫描透射电子显微镜。
建立在一个超稳定的基础上
所有的Spectra 300 (S)TEM都安装在新平台上，旨在通过被动和（可选配）主动隔振提供前所未有的机械稳定性和最高成像质量。
该系统安装在一个完全重新设计的外壳内，内置屏幕显示，便于装载和取出标本。这是电子显微镜首次可以对无矫正器和单矫正器配置时的不同高度提供完全模块化和可升级性，从而为不同的房间配置提供最大的灵活性。
规格 - Spectra 300 TEM
| 图像矫正器 | 能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：60 pm STEM 分辨率：136 pm |
| 探针矫正器 | 能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：100 pm STEM 分辨率：50 pm（30 kV 下 125 pm） |
| 未校正 | 能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：100 pm STEM分辨率：136 pm |
| X-FEG/单色器双校正（探针+图像矫正器） | 能量散布：0.2–0.3 eV 信息限制：60 pm STEM分辨率：50 pm（30 kV 下 125 pm） |
| X-CFEG 双校正（探针+图像校正） | 能量散布：0.4 eV 信息限制：70 pm STEM分辨率：50 pm（30 kV 下 136 pm） |
| 离子源 | X-FEG Mono：高亮度肖特基场发射枪和单色器，可调谐能量分辨率范围为 1-<0.2 eV X-FEG UltiMono：高亮度肖特基场发射枪，配备超稳定单色器和加速电压，可调谐能量分辨率范围为 1eV-<0.03eV X-CFEG：固有能量分辨率 <0.4 eV 的超高亮度 30 – 300 kV 的灵活高张力范围 |
Spectra300(S)TEM的主要特点
Spectra300(S)TEM可配置高能量分辨率电子源
还可配置超高亮度X-CFEG光源
提供最高分辨率的STEM成像性能
PantherSTEM探头系统具有前所未有的灵敏度
先进的STEM成像能力
Spectra300(S)TEM灵活的能谱配置
Spectra300(S)TEM的原位功能
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