Talos F200i 透射电子显微镜
Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 是一款 20-200 kV 场发射（扫描）透射电子显微镜，专为各种材料科学样品和应用要求的性能和生产率而设计。其标准的 X-Twin 极靴间隙在应用中具有较高的灵活性，且与高再现的电子镜筒相结合时，可用于为高分辨 2D 和 3D 表征、原位动态观察和衍射应用。
Talos F200i 透射电子显微镜优势
Talos F200i S/TEM 专为多用户和多学科环境设计，也是初级用户的理想选择。其配备在所有 Thermo Scientific TEM 平台上共享、能够快速熟悉的 Thermo Scientific Velox 用户界面。所有 TEM 的日常调整均自动完成，以提供最佳的、可重现性最高的设置。 Align Genie 自动化软件简化了新手操作员的学习曲线，降低了多用户环境中的紧张关系，并提高了经验丰富的操作员的数据获取时间。 此外，可在配置中添加侧面插入的可伸缩能量色散 X 射线光谱 (EDS) 监测器来进行化学分析。
紧凑型设计
Talos F200i 的占地面积和尺寸较小，可适应更具挑战性的空间。此外，这种紧凑型设计降低了维修时的接触难度，同时也降低了基础设施和支持成本。
所有用户的生产率
为进一步提高生产率，尤其是在多用户多材料环境中，恒定功率物镜、低滞后设计以及使用 SmartCam 摄像机进行远程操作可实现直接可重现的模式和高张力切换。Talos F200i S/TEM 还提供在线学习帮助。将鼠标指针悬停在控制面板上后，只需按 F1 即可快速打开相关信息。
规格 - Talos F200i TEM
| TEM | 线分辨率：≤0.10 nm |
| 操作系统XX单元 | 控制器：Windows®10 远程控制：是 |
| 真空系统 | 气锁抽气：无油和无振动 冷阱：标准 长时间杜瓦瓶：可选配 - 至少 4 天待机时间（重新补充之间） |
| STEM 成像 | STEM 分辨率： ≤0.16 nm(S-FEG/X-FEG) ≤0.14 nm，100pA(X-CFEG) 检测器：HAADF 和/或同轴 Panther BF/DF |
| 能量色散 X 射线光谱 (EDS) | 检测器尺寸 (Bruker X-flash)：30、100或双100mm2 可伸缩：是，电动 |
| 电子能量损失光谱 (EELS) | ≤0.8 eV (S-FEG/X-FEG) ≤0.3 eV (X-CFEG) |
| 枪亮度200kV | 4×108A /cm2srad(S-FEG) 1.8×109A /cm2srad(X-FEG) 2.4×109A /cm2srad(X-CFEG) |
主要特点：
可搭配众多高分辨率场发射枪 (FEG)
选择 X-FEG、高亮度 X-FEG 或超高亮度冷场发射枪 (X-CFEG)。X-CFEG 将极佳 (S)/TEM 成像及极佳能量分辨率相结合。
可搭配双 EDS 技术
从单个 30 mm² 检测器到用于高通量（或低剂量）分析的双 100 mm² 检测器中，选择最适合您需求的 EDS 检测器。
高质量 STEM/TEM 图像和准确的 EDS
创新且直观的 Velox 软件用户界面非常简单，从而轻松获得高质量的 TEM 或 STEM 图像。Velox 软件中独特的 EDS 吸收校正功能可实现最准确的定量。
最全面的原位功能
添加断层扫描或原位样品架。快速摄像机、智能软件和我们的宽 X-TWIN 物镜间隙可在尽可能不降低分辨率和分析功能的情况下实现 3D 成像和原位采集。
提高了生产率
超稳定的色谱柱、借助 SmartCam 的远程操作和恒定功率物镜，可进行快速模式和高电压 (HT) 切换。多用户环境的快速轻松切换。
可重复性最高的数据
所有日常 TEM 调整、例如聚焦、共心高度、电子束移位、冷凝器光阑、电子束倾斜枢轴点和旋转中心都是自动进行的，确保您始终从最佳成像条件开始工作。实验可重现，使您可以专注于研究，而不是工具。
高速提供大视野成像
4k × 4k Ceta CMOS 摄像机及其大视野使得可以在整个高张力范围内以高灵敏度和高速进行实时数字缩放。
紧凑型设计
更小的占地面积和尺寸有助于在更具挑战性的空间中使用此工具，同时降低基础设施和支持成本。
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