Thermo Scientific 这台新型已获奖Krios G4冷冻透射电子显微镜 (Cryo-TEM)可以使您在分子水平上前所未有地更简单，更快以及更稳定地揭示生命。 Krios G4 Cryo-TEM是同类产品种最紧凑型的TEM。它由高度稳定的 300 kV 透射电镜平台和行业领先的自动上样器（冷冻样品自动操作装置）组成。这使得Krios G4 Cryo-TEM非常适合自动化应用如 单颗粒分析 (SPA)， 冷冻电子断层扫描 (cryo-ET) 和 和微晶电子衍射 (microED)。
通过对机械底座框架和设备外壳进行全面地重新设计，使得显微镜的高度降低至 3 m 以内，适用于天花板高度最低为 3.04 m（约 10 ft）的实验室，从而避免了昂贵的实验室改造费用。内置连通性设计确保整个工作流程稳健无风险，包括从样品制备和优化到图像采集和数据处理。
以破纪录的分辨率解析结构
Krios G4 Cryo-TEM 配备以 Thermo Scientific E-CFEG ，独有地的 Thermo Scientific Selectris 和 Selectris X 成像过滤器，以前所未有的分辨率，速度及便捷性推动了冷冻电镜的发现工作。
E-CFEG 是一种冷场发射枪，其具有的窄能散度可产生更高对比度的图像并实现原子分辨率。这个附加元件使其可以有效地以 2.0 Å 或更小的分辨率解析结构。
Selectris 成像过滤器提供独特的稳定性、便利性和性能。搭配以Thermo Scientific Falcon 4i 直接电子探测器，这两个附加件使得可比上一代产品快达10倍的速度获取更高质量图像。
发表在 Nature 杂志上的一篇文章详细介绍了结构生物学家如何使用配备了 Selectris 成像过滤器原型的 Krios Cryo-TEM，以前所未有的分辨率研究蛋白质结构。获得了储铁蛋白去铁铁朊 1.2 Å 分辨率的结构和 1.7 Å 分辨率的 GABA A 型受体相关蛋白结构，并在其蛋白关键部分获得了更高的分辨率。
规格 - Krios G4 Cryo-TEM
| 离子源 | X-FEG（极高亮度场发射枪）或低能散冷 FEG (E-CFEG) |
| 加速电压 | 80-300 kV |
| 冷冻样品自动上样器 | 自动且无污染的盒式上样（最多 12 个载网） |
| 温度管理软件 | 包括液氮自动填充和冷却调度 |
| 透镜 | 自动聚光镜、物镜和 SA 光栏系统 用于自动、连续和平行样品照明的三聚光透镜系统 具有宽间隙极靴 (11 mm) 的对称恒度C-TWIN 物镜 |
| 载物台 | 具有 ±70 度 α 倾斜度的电脑化 4 轴样品台 用于优化稳定性和漂移性能的带单轴支架冷冻式载台 |
| 成像 | 可改变放大倍数的无旋转成像 |
| 先进的性能监控 | 光学显微镜状态自我评估与自动校准相结合，确保实验在理想条件下进行 |
| 实验室尺寸要求（长 × 宽 × 高） | 17’ × 22’ × 10’ |
| AFIS（无像差图像位移） | 在载网孔之间移动时不会产生彗差，从而通过缩短松弛时间提高图像产出 |
| FFI（无边缘效应成像） | 通过对每个载网孔进行多次图像采集从而提高图像产出 |
| Thermo Scientific EPU 2 软件 | 自动样品筛选和数据采集 EPU Multigrid 功能 |
| 附加组件 | 三台 24” 显示器 手动面板，放置在距离支柱 15 米以内的位置或最多延伸至距离支柱 300 米的位置（选配） |
| 探测器（选配） | Falcon 4i 直接电子探测器 Thermo Scientific Ceta D 相机 Thermo Scientific Ceta 16M 相机 HAADF STEM 探测器 轴上 BF/DF 探测器 |
| 能量过滤器（选配） | Selectris 成像过滤器 Selectris X 成像过滤器 Gatan BioContinuum 能耗过滤器 |
| 其它选项 | Cs 图像校正器 Thermo Scientific 相位板解决方案 |
优势
可更容易适配新建或者现有的实验室。
重新设计的内部底座框架和系统外壳将高度降至3m(10ft)以下，同时提高了系统性能并避免了昂贵的实验室改造费用。
原子分辨率性能
选配的配备有Falcon4i直接电子探测器和E-CFEG冷场发射源的SelectrisX成像过滤器可提高图像对比度，以在更短时间内使图片达到更高分辨率。
通过软件自动化实现生产力最大化
高级性能监控确保了自动化运行的最佳光学起点，并且EPU软件能够实现网格自动化筛选、质量监控和数据管理。
工作流程连通性
上样盒的设计，使其换样简单。这使得可以在配备有自动上样器的TEM设备间轻松切换样品。并配备Athena软件用于管理实验参数和数据。
主要特点
了解Falcon4i直接电子探测器对产能的影响，它比往代产品的曝光时间缩短了10倍。
无像差图像移位(AFIS)是一种光学模式，可在不影响图像质量的情况下加快数据采集速度。AFIS执行大光束位移时不会产生离轴彗差和像散。
使用无边缘效应成像(FFI)可在每个样品区采集更多的图像，从而提高了图片采集的日产出。听听FFI如何帮助ElizabethVilla博士实验室的日常研究。
通过增强图片采集设置的自动化，系统远程监控以优化显微镜的使用，可提供质量检测的实时成像以及数据管理和项目监管，实现对日常工作量的最大化。
可用于往代KriosCryo-TEM的升级选项
电子源
E-CFEG：用于在真正原子分辨率下获得更高对比度的低能散冷场发射枪
探测器和相机
SelectrisX成像过滤器：适用于原子分辨率冷冻电镜的零损能量过滤
Falcon4i直接电子探测器
Ceta-DmicroED探测器
软件和光学模块
无边缘效应成像(FFI)光学模块
EPUMultigrid软件
EPUQualityMonitor软件
KriosG4
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