电荷减少样品支架

性能数据

与标准 Phenom 样品支架相比，装载样品前可见的放大倍数高达 8 倍。

溅射涂层的需求显著降低，导致不需要额外的设备和更快的样品制备。

非导电样品可以在其自然状态下成像，提供有价值的背散射材料衬度信息。